光纖熔接器的工藝如何
光纖熔接器的工藝主要包括熔接前準(zhǔn)備、熔接操作、熔接后檢測(cè)等環(huán)節(jié)，以下為你詳細(xì)介紹：
熔接前準(zhǔn)備工藝
- 設(shè)備與材料檢查
- 熔接機(jī)檢查：確保光纖熔接機(jī)及其輔助設(shè)備（如光纖剝皮器、光纖切割器等）處于良好工作狀態(tài)，無(wú)損壞或故障。檢查熔接機(jī)的電極棒是否需要更換，電極棒的使用壽命有限，當(dāng)出現(xiàn)磨損嚴(yán)重、放電不穩(wěn)定等情況時(shí)，應(yīng)及時(shí)更換。
- 材料準(zhǔn)備：根據(jù)工程需求，準(zhǔn)備適當(dāng)類型和數(shù)量的光纖，并進(jìn)行清潔處理，去除光纖表面的塵埃和油污。同時(shí)，準(zhǔn)備好熱縮套管、酒精棉等輔助材料。
- 參數(shù)設(shè)置：根據(jù)光纖的類型、長(zhǎng)度和熔接要求，在熔接機(jī)上進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，包括熔接溫度、壓力和時(shí)間等。不同類型的光纖（如單模光纖、多模光纖）需要設(shè)置不同的熔接參數(shù)，以確保熔接質(zhì)量。
熔接操作工藝
- 光纖預(yù)處理
- 剝除涂覆層：用米勒鉗剝除光纖涂覆層，長(zhǎng)度一般為4cm左右。剝除時(shí)要注意力度均勻，避免損傷光纖。
- 清潔光纖：用酒精棉清潔光纖表面3次，可降低光纖損耗，使光纖表面達(dá)到無(wú)附著物狀態(tài)。
- 切割光纖：使用光纖切割刀將光纖切割整齊，便于熔接。將干凈的光纖放入切割刀的導(dǎo)向槽，涂覆層的前端對(duì)齊切割刀刻度尺16mm到12mm之間的位置，切割時(shí)動(dòng)作要平穩(wěn)、準(zhǔn)確。
- 光纖放置與對(duì)準(zhǔn)
- 放入夾具：將切割好的兩根光纖分別放入熔接機(jī)的夾具內(nèi)，安放時(shí)不要碰到光纖端面，并保持光纖端面在電極棒和V型槽之間。
- 對(duì)準(zhǔn)調(diào)試：對(duì)熔接機(jī)進(jìn)行調(diào)試，包括檢查光纖放置是否正確，熔接頭的對(duì)準(zhǔn)精度等?，F(xiàn)代熔接機(jī)一般采用纖芯對(duì)準(zhǔn)技術(shù)，通過(guò)CCD鏡頭找到光纖的纖芯，并自動(dòng)調(diào)整光纖的位置，使兩根光纖的纖芯精確對(duì)準(zhǔn)。
- 熔接過(guò)程
- 啟動(dòng)熔接：蓋上防風(fēng)罩，開(kāi)始熔接。熔接機(jī)利用高壓電弧將兩光纖斷面熔化，同時(shí)用高精度運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)平緩?fù)七M(jìn)讓兩根光纖融合成一根。
- 實(shí)時(shí)監(jiān)控：在熔接過(guò)程中，實(shí)時(shí)監(jiān)控熔接頭的溫度、壓力和熔接速度等參數(shù)，確保熔接過(guò)程的穩(wěn)定性。通過(guò)熔接機(jī)的攝像頭或顯示屏，觀察光纖熔接的實(shí)時(shí)圖像，判斷熔接質(zhì)量。
熔接后處理工藝
- 熱縮保護(hù)
- 移動(dòng)套管：掀開(kāi)防風(fēng)罩，依次打開(kāi)左右?jiàn)A具壓板，取出光纖，然后將熱縮套管移動(dòng)到熔接點(diǎn)，并確保熱縮套管兩端包住光纖涂覆層。
- 加熱收縮：將套上熱縮套管的光纖放入加熱器內(nèi)，然后蓋上加熱器蓋板，同時(shí)加熱指示燈點(diǎn)亮，機(jī)器將自動(dòng)開(kāi)始加熱熱縮套管。當(dāng)加熱指示燈熄滅，熱縮完成，掀開(kāi)加熱器蓋板，取出光纖，放入冷卻托盤。
- 盤纖處理：將熔接好的光纖盤入光纖熔接盤，以降低光纖損耗。盤纖是一門技術(shù)，也是一門藝術(shù)，常見(jiàn)的盤纖方法有先中間后兩邊、以一端開(kāi)始盤纖等。在盤纖時(shí)，要注意盤圈的半徑應(yīng)不小于4cm，避免出現(xiàn)急彎、小圈現(xiàn)象。
質(zhì)量檢測(cè)與評(píng)估工藝
- 外觀檢查：對(duì)熔接后的光纖進(jìn)行外觀檢查，觀察熔接點(diǎn)是否有氣泡、裂縫等缺陷，光纖對(duì)接的平整度是否良好。
- 熔接損耗測(cè)量：通過(guò)光時(shí)域反射儀（OTDR）等設(shè)備，測(cè)量熔接點(diǎn)的光路損耗，確保熔接質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。一般來(lái)說(shuō)，單模光纖的熔接損耗應(yīng)不大于0.08dB，多模光纖的熔接損耗應(yīng)不大于0.1dB。
- 數(shù)據(jù)記錄與分析：記錄熔接過(guò)程中的關(guān)鍵數(shù)據(jù)，如熔接時(shí)間、溫度曲線、熔接損耗值等，為后續(xù)分析和改進(jìn)提供依據(jù)。對(duì)熔接損耗較大的點(diǎn)，要分析原因，采取相應(yīng)的措施進(jìn)行改進(jìn)，如重新熔接、調(diào)整熔接參數(shù)等。